SC-E大米外觀品質(zhì)檢測儀

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更新時間：2023-07-01

簡要描述：

SC-E大米外觀品質(zhì)檢測儀用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質(zhì)指標(biāo)的自動檢測，可進(jìn)行多參數(shù)、批量化的自動分析。系統(tǒng)組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	儀器種類	分樣器
價格區(qū)間	面議	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	食品,農(nóng)業(yè)

SC-E大米外觀品質(zhì)檢測儀用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質(zhì)指標(biāo)的自動檢測，可進(jìn)行多參數(shù)、批量化的自動分析。

SC-E大米外觀品質(zhì)檢測儀組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。

技術(shù)參數(shù)：

硬件規(guī)格
光學(xué)分辨率	4800×9600 dpi
根系透掃幅面積	30 cm×20 cm
小像素尺寸	0.0053mm ×0.0026 mm
軟件功能
分析測量	可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數(shù)量、整精米率、大米透明度、黃粒米、雜質(zhì)量、異品種粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的碾米精度、裂紋率，以及糙米胚芽率。自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.05mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現(xiàn)性誤差≤±0.02；整精米率、碎米率指標(biāo)測量誤差≤±1.0%、重現(xiàn)性誤差≤±0.25%）。可大批量自動分析處理與輸出結(jié)果。與國標(biāo)GB/T1350稻谷、GB/T17891優(yōu)質(zhì)稻谷或GB1354大米、農(nóng)業(yè)部新標(biāo)準(zhǔn)【大米】NY/T2334-2013等標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng)，檢測各項指標(biāo)的重量比和粒數(shù)比。各分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存，分析結(jié)果輸出至Excel表，可輸出分析標(biāo)記圖。具有自動學(xué)習(xí)與識別特性，可自動分割粘連的大米、種粒，可做自動分類分析。具有樣本條碼、電子天平RS232數(shù)據(jù)軟件接口?？杉鏈y的種粒直徑范圍0.3-20mm（厚15 mm），自動測量精度≥99%，交互修正后準(zhǔn)確率達(dá)100%。